重新查詢 | 回學校首頁

1042學期 課程基本資料/Course Information

系所 / 年級
資工系碩士班  1年級
課號 / 班別
EE200165 / A
學分數
3學分
選 / 必修
選修
科目中文名稱
Integrated Circuit Testing
科目英文名稱
Integrated Circuit Testing
主要授課老師
許健
開課期間
一學年之下學期
人數上限
20 人
已選人數
8人

起始週 / 結束週 / 上課地點 / 上課時間

第1週 / 第18週 / I320 / 星期2第2節
第1週 / 第18週 / I320 / 星期2第3節
第1週 / 第18週 / I320 / 星期2第4節

請各位同學遵守智慧財產權觀念;請勿非法影印。
Please observe Intellectual Property Rights (IPR), not to make illegal copies.

教學綱要/syllabus

第一部分/Part I(※依課程委員會審議之內容決議填入)

一、教學目標所要達成之能力培養項目:
[依據課程委員會審議通過之課程與基本素養/核心能力關聯表填寫]
Item 基本素養/核心能力 Core Literacy/Core Competencies 相關性 Relevance
高度相關 中度相關
1 具有資訊專業領域之知識 tick

.

2 具有創新思考、獨立解決問題之能力 tick

.

3 具有撰寫專業論文及簡報能力

.

.

4 具策劃及執行專案之能力

.

.

5 具有溝通、協調及跨領域團隊合作之能力 tick

.

6 具有終身學習與因應資訊專業領域快速發展之能力

.

.

7 認識並遵循學術與工程倫理

.

.

8 具國際觀及科技前瞻視野

.

.

二、教學目標
(Objective)
1.認知面:[使學生理解、應用、分析、綜合、比較、推論、評估本課程之理論與概念]:
     The purpose of this course is to provide students about semiconductor devices measurements and testing theorem.
2.技能面[使學生能獲得運用與實做本課程理論與概念之技巧]:
     By learning modern electronic device testing therom to enhance the semiconductor devices design and application.
3.情意面[能引發學生對本課程之興趣,激發學生學習動機,增加觸類旁通與自主學習]:
     This course aims to improve students professional skill to fit the need of high technology semiconductor manufacturing.
三、符合教學目標之課程內容設計
1. Introduction to Electrical Measurements and Testing; 2. Design for Testability 3. Logic and Faults Simulation; 4.Test Generation and so forth.
四、先修科目
(Pre Course)
  Electonics, VLSI, logic design, computer science

第二部分/Part II

一、多元教學方法
(Teaching Method)
 由學生自訂學習目標與抱負水準  案例或故事討論  講述
 學生課後書面報告  小組討論  學生上台報告  腦力激盪
 學生實作  角色演練  習題練習  影片欣賞與討論
 採訪  e化教學  審議式民主  觀察與資料收集
 一分鐘回饋  磨課師課程  翻轉教學  其他
 企業參訪  與課程有關之實務學習  見習  實習
 協同教學  服務學習課程  其他系課程委員會核定之實務學習項目  以「技能導向」的教學設計
 以「病人為中心」的教學設計  問題導向教學法  設計導向教學法  專題導向教學法
 總結性教學法
二、多元教學方法與教育目標的連結
您所勾選之教學方法與何種基本素養/核心能力有關? 125
1.案例或故事討論
2.講述
3.學生課後書面報告
4.小組討論
5.學生上台報告
6.腦力激盪
7.e化教學
8.觀察與資料收集
9.協同教學
三、參考書目 (Reference)
[符合教學目標之參考書目]
中文參考書目 "VLSI TEST Principles and Architectures," edited by Wang.
英文參考書目 Vlsi testing principles
四、教學進度
(Syllabi)
[符合教學目標之教學進度]
教學進度與何種基本素養/核心能力有關? 125
2016/2/23 Introduction of VLSI Testing 許健
2016/3/1 Introduction of VLSI Testing 許健
2016/3/8 Design of Testability 許健
2016/3/15
Industry Staff Instructor
許健
2016/3/22 Logic and Fault Simulation 許健
2016/3/29
Industry Staff Instructor
許健
2016/4/5 Logic and Fault Simulation 許健
2016/4/12 Test Generation  許健
2016/4/19 Mid-term Examination  許健
2016/4/26 Test Generation 許健
2016/5/3 Industry Staff Instructor 許健
2016/5/10 Logic Bulit-In-Self-Test 許健
2016/5/17 Test Compression 許健
2016/5/24 Logic Diagnosis 許健
2016/5/31 Memory Testing and Built-In-Test 許健
2016/6/7 Memory Testing and Built-In-Test 許健
2016/6/14 Final Examination 許健
2016/6/21 Final Examination 許健
五、多元評量方法
(Evaluation)
[所勾選評量方法之評分加總為100分]
評量方式分數評量方式分數
 實作測驗   0  期中筆試 10
 隨堂筆試測驗   0  期末筆試   0
 小組作業   0  期中報告 25
 服務日誌   0  期末報告 35
 口試   0  專題報告   0
 個人上台報告   0  實作作品與反思   0
 小組上台報告 10  前後測比較進步與成長   0
 出席狀況 20  課堂參與與表現   0
 心得與反思報告   0  其他   0
六、多元評量方法與教育目標的連結
您所勾選之評量方法與何種基本素養/核心能力有關? 125
1.期中筆試
2.期中報告
3.期末報告
4.小組上台報告
5.出席狀況
七、講義位址(http://)
http://elearn.asia.edu.tw/icanxp/